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多功能掃描探針顯微鏡系統

產品時間:2024-06-02

訪問次數:1290

簡要描述:

多功能掃描探針顯微鏡系統
AFM100 Plus/AFM100系統是以在研發、生產、教育等各種場合普及AFM應用為目的,
并追求操作性、可靠性及高效率觀察的通用型高分辨掃描探針顯微鏡系統。
預裝探針系統實現可靠的探針更換

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多功能掃描探針顯微鏡AFM100 Plus/AFM100系統

AFM100 Plus/AFM100系統是以在研發、生產、教育等各種場合普及AFM應用為目的,

并追求操作性、可靠性及高效率觀察的通用型高分辨掃描探針顯微鏡系統。

預裝探針系統實現可靠的探針更換 

圖片1.jpg

                                         

 一鍵自動測量/處理/分析

圖片2.jpg

 

利用AFM標記功能實現同視野的AFM-SEM-EDS觀察分析

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日立科學儀器(北京)有限公司為您提供日立AFM100系列多功能掃描探針顯微鏡的參數、價格、型號、原理等信息,日立AFM100系列多功能掃描探針顯微鏡產地為日本、品牌為日立,型號為AFM100,價格為面議,更多相關信息可,公司客服電話7*24小時為您服務


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